Artículo 114.- Cuando a juicio del Instituto sea necesario para efectuar el examen de fondo, se podrá
requerir a la persona solicitante para que exhiba información o documentación adicional o
complementaria, incluida aquélla relativa a la búsqueda o examen practicado por oficinas extranjeras, en
el plazo al que se refiere el artículo 111 de esta Ley.
El Instituto podrá considerar o requerir el resultado del examen de fondo o su equivalente realizado
por oficinas extranjeras de patentes, el cual será contemplado como un documento de apoyo técnico para
el efecto de determinar si la invención, cuya patente se solicita, cumple con los requisitos establecidos en
esta Ley.
La persona solicitante podrá presentar una copia de la patente respectiva otorgada por la oficina
extranjera de propiedad industrial que corresponda, con su traducción al español, para los efectos del
párrafo anterior.